LCR메터 제품소개

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| LCR메터 제품소개

   | Resistance Meter / LCR Meter


  • LCR Meter
    0.05% 정확도

    •벤치탑 LCR 미터, LCR-6000
    •측정 주파수 대역 : 10Hz~2/20/100/200/300kHz
    •기본 정확도 : 0.05%  

    •RS-232C/USB/Handler
  • 벤치탑 LCR 미터
    •벤치탑 LCR 미터, LCR-8000G
    •측정 주파수 대역 : 20Hz~1MHz/5MHz/10MHz
    •기본 정확도 : 0.1%
    • RS-232/GPIB
    인기상품
  • 핸드헬드 LCR 미터

    •핸드헬드 LCR 미터, LCR-900
    •측정 주파수 대역 : 100Hz/120Hz/1kHz/10kHz/100kHz
    •기본 정확도 : 0.2%

    •USB
    인기상품
  • LCR미터

    •측정속도 최대 2ms
    •기본확도 0.08%, 분해능 6자리
    • 측정주파수
       ZM2371/ ZM2372 : 1mHz ~ 100kHz
       ZM2376 : 1mHz ~ 5.5MHz
    •측정신호레벨 10mVrms ~ 5Vrms
    •내부 DC바이어스
      ZM2371/ ZM2372 : 0 ~ +2.5V
      ZM2376 : 0 ~ +5V

    인기상품
  • LCR Meter
    • ±0.05%의 정확도와 광범위한 측정 조건(DC 및 40Hz∼200kHz, 5mV∼5V, 10μA∼50mA 설정 가능) 
    • C-D, ESR 등 조건이 다른 측정을 연속으로 할 경우 전체 측정 속도가 10배 빨라짐(종래 기계 3532-50 비교) 
    • LOW 임피던스 측정 모드를 탑재하여 , LOW 인덕턴스나 알루미늄 전해 콘덴서의 ESR 측정에 효과적 
    • 권수비/상호 인덕턴스(mutual inductance)/온도보정 부착DCR 등 트랜스 전용 측정 
    • 주파수 스윕 테스트(IM3533-01) 
    • 컴퍼레이터 및 BIN functions 내장 
    • 측정시간 0.002초의 고속측정 
    인기상품
  • LCR Meter
    • ±0.05%의 정확도와 광범위한 측정 조건(DC 및 40Hz∼200kHz, 5mV∼5V, 10μA∼50mA 설정 가능) 
    • C-D, ESR 등 조건이 다른 측정을 연속으로 할 경우 전체 측정 속도가 10배 빨라짐(종래 기계 3532-50 비교) 
    • 컴퍼레이터 및 BIN functions 내장 
    • 측정시간 0.002초의 고속측정 
    인기상품
  • LCR Meter

    • 측정주파수 DC, 4Hz ~ 8MHz 
    • 최대속도 1ms의 측정시간 
    • 기본 정확도 ±0.05% rdg 
    • 1mΩ 레인지 부터의 확도 보증, 안심할 수 있는 low impedance 측정 
    • DC BIAS 측정, 내부 전압 발생 가능(DC 0V ~ 2.50V, 분해능: 10mV) 
    • R&D부터 생산라인까지 광범위한 분야에 적용 가능 

    인기상품
  • LCR HiTESTER

    • 5ms의 고속측정을 할 수 있는 Compact LCR측정기 
    • 최고속도 5ms(1kHz)/13ms(120Hz)의 고속측정 
    • Line 측정에 대응하는 고속 Comparator기능 내장 
    • 측정주파수 : 1kHz/120Hz의 전환 
    • 최소 분해능 0.01pF의 미세한 측정에서 1F까지의 대용량 측정까지 
    • 9442 PRINTER로 측정치, Comparator 결과 인쇄 가능(Option) 

    인기상품
  • C HiTESTER
    • 최대 14 랭크로 분류하는 BIN 기능(3504)에 의해 용량 선별이 가능 
    • 라인 측정에 대응하는 고속 콤퍼레이터 기능 내장 
    • 콤퍼레이터 설정치를 측정치와 동시 표시, 선별이 용이 
    • 최고 속도 2 ms의 고속 측정으로 팁 부품 테이핑 머신에 대응 
    • 정전압 측정: 1 V(~70μF), 500 mV(~170μF), 1 kHz시 
    • 방아쇠 동기 출력 기능
    인기상품
  • C METER

    • 아날로그 측정 시간 0.6 ms(1 MHz)의 고속 측정 
    • 향상된 노이즈 방지기능으로 생산라인의 반복적 측정에서 고정확도 실현 
    • 측정주파수 1 kHz, 1 MHz 지원 저용량의 테이핑시 안정된 측정이 가능 
    • BIN 기능으로 선별기에 대응 

    인기상품
  • CHEMICAL IMPEDANCE ANALYZER
    • 이온특성 및 용액저항이 측정가능한 1mHz~200Khz의 넓은 대역폭 
    • 1대의 기기로 LCR 및 SWEEP 측정을 연속적으로 빠르게 측정 
    • 전지의 무부하 상태의 내부 임피던스 측정가능 
    • 2ms의 고속 측정에서 SWEEP 측정 
    • 기본 정확도 ±0.05 %, 부품 검사에서 연구개발까지 사용가능 
    • 전기화학 요소 및 재료의 등가회로 분석과 콜-콜 플롯을 위한 LCR 임피던스 측정 지원
    인기상품
  • IMPEDANCE ANALYZER
    • LCR 측정, DCR 측정, 스위프 측정 연속 측정과 고속 검사를 1대로 실현 
    • LCR 모드에서 빠른 1.5ms (1kHz), 0.5ms (100kHz)의 고속 측정 
    • 기본 정확도 ± 0.08 %의 고정밀도 측정 
    • 완벽한 압전 소자(piezoelectric elements)의 공진 특성(resonance characteristics) 검사 
    • 기능성 고분자 콘덴서의 C-D와 낮은 ESR 측정 인덕터 (코일 트랜스)의 DCR와 LQ 측정에 이상적 
    • 분석모드에서 주파수 스윕, 레벨 스윕,측정 인터벌 조절 가능 
    인기상품
  • IMPEDANCE ANALYZER
    • 측정주파수 1MHz ~ 300MHz 
    • 측정시간: 최속 0.5ms (아날로그 계측 시간) 
    • 기본 확도 ±0.72% rdg. 
    • Contact 체크 기능(DCR 측정, Hi-Z reject, 파형 판정) 
    • 아날라이저 모드에서 측정 주파수, 측정 신호 레벨의 sweep 가능  
    인기상품
  • IMPEDANCE ANALYZER
    • 측정주파수 1MHz ~ 600MHz 
    • 측정시간: 최속 0.5ms (아날로그 계측 시간) 
    • 기본 확도 ±0.72% rdg. 
    • Contact 체크 기능(DCR 측정, Hi-Z reject, 파형 판정) 
    • 아날라이저 모드에서 측정 주파수, 측정 신호 레벨의 sweep 가능 
    인기상품
  • IMPEDANCE ANALYZER

    • 측정주파수 1MHz ~ 600MHz 
    • 측정시간: 최속 0.5ms (아날로그 계측 시간) 
    • 기본 확도 ±0.65% rdg. 
    • Contact 체크 기능(DCR 측정, Hi-Z reject, 파형 판정) 
    • 아날라이저 모드에서 측정 주파수, 측정 신호 레벨의 sweep 가능

    인기상품
  • IMPEDANCE ANALYZER
    • 측정주파수 1MHz ~ 1.3GHz 
    • 측정시간: 최속 0.5ms (아날로그 계측 시간) 
    • 측정값 분산: 0.07%(측정 주파수 1GHz 시의 대표값) 
    • 기본 확도 ±0.65% rdg. 
    • Contact 체크 기능(DCR 측정, Hi-Z reject, 파형 판정) 
    • 아날라이저 모드에서 측정 주파수, 측정 신호 레벨의 sweep 가능 
    인기상품
  • IMPEDANCE ANALYZER
    • 측정주파수 1MHz ~ 1.3GHz 
    • 측정시간: 최속 0.5ms (아날로그 계측 시간) 
    • 기본 확도 ±0.65% rdg. 
    • 측정값 분산: 0.07%(1nH 코일을 3GHz로 측정했을 시) 
    • Contact 체크 기능(DCR 측정, Hi-Z reject, 파형 판정) 
    • 아날라이저 모드에서 측정 주파수, 측정 신호 레벨의 sweep 가능
    인기상품

 

 

 

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