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C HiTESTER
• 최대 14 랭크로 분류하는 BIN 기능(3504)에 의해 용량 선별이 가능
• 라인 측정에 대응하는 고속 콤퍼레이터 기능 내장
• 콤퍼레이터 설정치를 측정치와 동시 표시, 선별이 용이
• 최고 속도 2 ms의 고속 측정으로 팁 부품 테이핑 머신에 대응
• 정전압 측정: 1 V(~70μF), 500 mV(~170μF), 1 kHz시
• 방아쇠 동기 출력 기능
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C METER
• 아날로그 측정 시간 0.6 ms(1 MHz)의 고속 측정
• 향상된 노이즈 방지기능으로 생산라인의 반복적 측정에서 고정확도 실현
• 측정주파수 1 kHz, 1 MHz 지원 저용량의 테이핑시 안정된 측정이 가능
• BIN 기능으로 선별기에 대응
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LCR HiTESTER
• 5ms의 고속측정을 할 수 있는 Compact LCR측정기
• 최고속도 5ms(1kHz)/13ms(120Hz)의 고속측정
• Line 측정에 대응하는 고속 Comparator기능 내장
• 측정주파수 : 1kHz/120Hz의 전환
• 최소 분해능 0.01pF의 미세한 측정에서 1F까지의 대용량 측정까지
• 9442 PRINTER로 측정치, Comparator 결과 인쇄 가능(Option)
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BATTERY HiTESTER
• 휴대 전화, 노트 PC 등의 소형 2차 전지 생산 라인 전용
• 내부 저항과 전압 검사에 가세해 공정/ 품질관리를 위한 연산 기능을 부가
• 양부 판정의 기준치는, 전지의 종류에 의해 유저 측에라고 입력할 필요가 있습니다
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PORTABLE BATTERY TESTER
• 측정부터 저장까지 최대 속도 2s. 기존품(3554)대비 60%단축
• 내부저항/전압을 측정하여 열화상태의 양호/주의/불가를 순간진단
• Noise Reduction Technology 탑재, 노이즈 내성 업
• Bluetooth® 무선 기술을 통하여 측정값을 실시간으로 송신, 표시(BT3554-01)
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PORTABLE BATTERY TESTER
• 측정부터 저장까지 최대 속도 2s. 기존품(3554)대비 60%단축
• 내부저항/전압을 측정하여 열화상태의 양호/주의/불가를 순간진단
• Noise Reduction Technology 탑재, 노이즈 내성 업
• Bluetooth® 무선 기술을 통하여 측정값을 실시간으로 송신, 표시(BT3554-01)
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BATTERY HiTESTER
BT3561A (60V) / BT3562A (100V) / BT3563A (300V)
• BT3561A (60V) / BT3562A (100V) / BT3563A (300V) 측정
• 내부저항과 개방전압을 동시에 측정
• 동력용 소형셀, 까지의 소형팩 측정에 대응한 레인지 구성
• 내부저항(AC-IR)측정 레인지: 30 mΩ/300 mΩ/3 Ω/30 Ω/300 Ω/3 kΩ
• 개방전압 (OCV) 측정
• 인터페이스에 LAN 탑재
•LAN , RS-232C
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BATTERY HiTESTER
BT3562 (60V), BT3563 (300V)
• BT3562 (±60V) , BT3563 (±300V) 측정
• 고전압 배터리 팩/배터리 모듈의 생산 라인으로의 검사
• 대형(저저항) 셀 검사
• 다채로운 인터페이스로 고속 자동화 라인에 대응
• 앙품 판정의 기준치는, 전지의 종류에 맞추어 개별 입력필요
•RS-232C (기본) , GPIB(옵션)
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MEMORY HiCORDER
±1000V
• 1000V까지 다이렉트 측정 대응
• EV, PHEV 등 고전압 배터리 생산 라인 검사에 최적화
• 내부저항측정 0.1mΩ~3kΩ
• Spark 방전 저감 기능 탑재
• Analog Output 기능 탑재
• 1000V 및 고압 전지 팩 대응 측정 프로브(옵션)
•RS-232C , GPIB
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BATTERY IMPEDANCE METER
•저주파 AC-IR 측정으로 빠른 측정시간
•저임피던스 배터리도 확실하게 측정
•접촉저항 및 배선저항의 영향을 잘 받지않는 회로구성으로 안정된 측정을 실현
•임피던스와 전압 동시 측정
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4 3/4 디지트 DC 밀리옴미터
•4 3/4 디지트 DC 밀리옴미터, GOM-804/805
•디스플레이 4 3/4 디지트 LCD (50,000 카운트)
•기본 정확도 : 0.05%
•RS-232/USB/Handler, GPIB(옵션)
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LCR Meter
• ±0.05%의 정확도와 광범위한 측정 조건(DC 및 40Hz∼200kHz, 5mV∼5V, 10μA∼50mA 설정 가능)
• C-D, ESR 등 조건이 다른 측정을 연속으로 할 경우 전체 측정 속도가 10배 빨라짐(종래 기계 3532-50 비교)
• 컴퍼레이터 및 BIN functions 내장
• 측정시간 0.002초의 고속측정
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LCR Meter
• ±0.05%의 정확도와 광범위한 측정 조건(DC 및 40Hz∼200kHz, 5mV∼5V, 10μA∼50mA 설정 가능)
• C-D, ESR 등 조건이 다른 측정을 연속으로 할 경우 전체 측정 속도가 10배 빨라짐(종래 기계 3532-50 비교)
• LOW 임피던스 측정 모드를 탑재하여 , LOW 인덕턴스나 알루미늄 전해 콘덴서의 ESR 측정에 효과적
• 권수비/상호 인덕턴스(mutual inductance)/온도보정 부착DCR 등 트랜스 전용 측정
• 주파수 스윕 테스트(IM3533-01)
• 컴퍼레이터 및 BIN functions 내장
• 측정시간 0.002초의 고속측정
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LCR Meter
• 측정주파수 DC, 4Hz ~ 8MHz
• 최대속도 1ms의 측정시간
• 기본 정확도 ±0.05% rdg
• 1mΩ 레인지 부터의 확도 보증, 안심할 수 있는 low impedance 측정
• DC BIAS 측정, 내부 전압 발생 가능(DC 0V ~ 2.50V, 분해능: 10mV)
• R&D부터 생산라인까지 광범위한 분야에 적용 가능
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IMPEDANCE ANALYZER
• LCR 측정, DCR 측정, 스위프 측정 연속 측정과 고속 검사를 1대로 실현
• LCR 모드에서 빠른 1.5ms (1kHz), 0.5ms (100kHz)의 고속 측정
• 기본 정확도 ± 0.08 %의 고정밀도 측정
• 완벽한 압전 소자(piezoelectric elements)의 공진 특성(resonance characteristics) 검사
• 기능성 고분자 콘덴서의 C-D와 낮은 ESR 측정 인덕터 (코일 트랜스)의 DCR와 LQ 측정에 이상적
• 분석모드에서 주파수 스윕, 레벨 스윕,측정 인터벌 조절 가능
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CHEMICAL IMPEDANCE ANALYZER
• 이온특성 및 용액저항이 측정가능한 1mHz~200Khz의 넓은 대역폭
• 1대의 기기로 LCR 및 SWEEP 측정을 연속적으로 빠르게 측정
• 전지의 무부하 상태의 내부 임피던스 측정가능
• 2ms의 고속 측정에서 SWEEP 측정
• 기본 정확도 ±0.05 %, 부품 검사에서 연구개발까지 사용가능
• 전기화학 요소 및 재료의 등가회로 분석과 콜-콜 플롯을 위한 LCR 임피던스 측정 지원
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IMPEDANCE ANALYZER
• 측정주파수 1MHz ~ 300MHz
• 측정시간: 최속 0.5ms (아날로그 계측 시간)
• 기본 확도 ±0.72% rdg.
• Contact 체크 기능(DCR 측정, Hi-Z reject, 파형 판정)
• 아날라이저 모드에서 측정 주파수, 측정 신호 레벨의 sweep 가능
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IMPEDANCE ANALYZER
• 측정주파수 1MHz ~ 600MHz
• 측정시간: 최속 0.5ms (아날로그 계측 시간)
• 기본 확도 ±0.72% rdg.
• Contact 체크 기능(DCR 측정, Hi-Z reject, 파형 판정)
• 아날라이저 모드에서 측정 주파수, 측정 신호 레벨의 sweep 가능
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IMPEDANCE ANALYZER
• 측정주파수 1MHz ~ 600MHz
• 측정시간: 최속 0.5ms (아날로그 계측 시간)
• 기본 확도 ±0.65% rdg.
• Contact 체크 기능(DCR 측정, Hi-Z reject, 파형 판정)
• 아날라이저 모드에서 측정 주파수, 측정 신호 레벨의 sweep 가능
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IMPEDANCE ANALYZER
• 측정주파수 1MHz ~ 1.3GHz
• 측정시간: 최속 0.5ms (아날로그 계측 시간)
• 측정값 분산: 0.07%(측정 주파수 1GHz 시의 대표값)
• 기본 확도 ±0.65% rdg.
• Contact 체크 기능(DCR 측정, Hi-Z reject, 파형 판정)
• 아날라이저 모드에서 측정 주파수, 측정 신호 레벨의 sweep 가능