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LCR Meter
0.05% 정확도
•벤치탑 LCR 미터, LCR-6000
•측정 주파수 대역 : 10Hz~2/20/100/200/300kHz
•기본 정확도 : 0.05%
•RS-232C/USB/Handler
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벤치탑 LCR 미터
•벤치탑 LCR 미터, LCR-8000G
•측정 주파수 대역 : 20Hz~1MHz/5MHz/10MHz
•기본 정확도 : 0.1%
• RS-232/GPIB
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핸드헬드 LCR 미터
•핸드헬드 LCR 미터, LCR-900
•측정 주파수 대역 : 100Hz/120Hz/1kHz/10kHz/100kHz
•기본 정확도 : 0.2%
•USB
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4 3/4 디지트 DC 밀리옴미터
•4 3/4 디지트 DC 밀리옴미터, GOM-804/805
•디스플레이 4 3/4 디지트 LCD (50,000 카운트)
•기본 정확도 : 0.05%
•RS-232/USB/Handler, GPIB(옵션)
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고속 저항계
• 자동화설비에 필요한 초고속(0.9ms), 초정밀(0.007%) 실현
• 접촉저항을 관리하는 여러가지 체크 기능으로, 신뢰성의 높은 측정을 실현
• 인덕터 및 EMC 대책 부품의 저전력 저항 측정에 대응
• 제조 공정에서 수동으로 임의검사도 가능
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저항계
• 자동화시스템에서 적용 가능한 정확도 ± 0.16 %, 분해능 0.01μΩ의 성능
• 뛰어난 반복 측정 정확도
• 향상된 접촉확인 기능, 비교기 기능, 데이타 출력 기능 지원
• 직관적인 유저 인터페이스와 노이즈에 강하여 자동화시스템에 적합
•CE
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LCR Meter
• ±0.05%의 정확도와 광범위한 측정 조건(DC 및 40Hz∼200kHz, 5mV∼5V, 10μA∼50mA 설정 가능)
• C-D, ESR 등 조건이 다른 측정을 연속으로 할 경우 전체 측정 속도가 10배 빨라짐(종래 기계 3532-50 비교)
• LOW 임피던스 측정 모드를 탑재하여 , LOW 인덕턴스나 알루미늄 전해 콘덴서의 ESR 측정에 효과적
• 권수비/상호 인덕턴스(mutual inductance)/온도보정 부착DCR 등 트랜스 전용 측정
• 주파수 스윕 테스트(IM3533-01)
• 컴퍼레이터 및 BIN functions 내장
• 측정시간 0.002초의 고속측정
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저항계
• 기본 정확도 0.02 %, 최소 분해능 1μΩ 최대 측정 전류 300mA
• 0.000 mΩ~ 3.5 MΩ의 폭 넓은 측정범위
• 컴팩트한 본채로 공간절약화를 실현
• 빠르고 편리한 소리와 빛을 이용한 양불판정
•RM3544: none / RM3544-01: RS-232C, USB
• CE
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저항계
• 기본정확도 0.006 %, 최소분해능 0.01μΩ 최대측정전류 1A
• 측정 범위 0.00μΩ (측정 전류 1A) ~ 1200MΩ
• 다점 측정을 위한 멀티플랙서 유닛 Z3003(옵션, 4단자 20채널)
• 개방 회로 전압 20mV 이하의 저전력 저항 측정
• 빠르고 종합적인 생산성을 지원 측정 시작에서 판정 출력까지 최단 2.2ms
• CE
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LCR Meter
• ±0.05%의 정확도와 광범위한 측정 조건(DC 및 40Hz∼200kHz, 5mV∼5V, 10μA∼50mA 설정 가능)
• C-D, ESR 등 조건이 다른 측정을 연속으로 할 경우 전체 측정 속도가 10배 빨라짐(종래 기계 3532-50 비교)
• 컴퍼레이터 및 BIN functions 내장
• 측정시간 0.002초의 고속측정
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저항계
• 기본 정확도 0.02 %, 최소 분해능 0.1μΩ 최대 측정 전류 1A
• 0.0 uΩ~ 3.5MΩ 의 넓은 측정범위
• 프로브를 대는 것만으로, 메모리 1,000 개까지 쉽게 기록
• 인터벌 측정으로 온도 상승 시험 등의 데이터를 원활하게 수집
• 휴대성이 용이하여 대형 장비 유지보수 및 검사에 최적
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LCR Meter
• 측정주파수 DC, 4Hz ~ 8MHz
• 최대속도 1ms의 측정시간
• 기본 정확도 ±0.05% rdg
• 1mΩ 레인지 부터의 확도 보증, 안심할 수 있는 low impedance 측정
• DC BIAS 측정, 내부 전압 발생 가능(DC 0V ~ 2.50V, 분해능: 10mV)
• R&D부터 생산라인까지 광범위한 분야에 적용 가능
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LCR HiTESTER
• 5ms의 고속측정을 할 수 있는 Compact LCR측정기
• 최고속도 5ms(1kHz)/13ms(120Hz)의 고속측정
• Line 측정에 대응하는 고속 Comparator기능 내장
• 측정주파수 : 1kHz/120Hz의 전환
• 최소 분해능 0.01pF의 미세한 측정에서 1F까지의 대용량 측정까지
• 9442 PRINTER로 측정치, Comparator 결과 인쇄 가능(Option)
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C HiTESTER
• 최대 14 랭크로 분류하는 BIN 기능(3504)에 의해 용량 선별이 가능
• 라인 측정에 대응하는 고속 콤퍼레이터 기능 내장
• 콤퍼레이터 설정치를 측정치와 동시 표시, 선별이 용이
• 최고 속도 2 ms의 고속 측정으로 팁 부품 테이핑 머신에 대응
• 정전압 측정: 1 V(~70μF), 500 mV(~170μF), 1 kHz시
• 방아쇠 동기 출력 기능
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C METER
• 아날로그 측정 시간 0.6 ms(1 MHz)의 고속 측정
• 향상된 노이즈 방지기능으로 생산라인의 반복적 측정에서 고정확도 실현
• 측정주파수 1 kHz, 1 MHz 지원 저용량의 테이핑시 안정된 측정이 가능
• BIN 기능으로 선별기에 대응
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CHEMICAL IMPEDANCE ANALYZER
• 이온특성 및 용액저항이 측정가능한 1mHz~200Khz의 넓은 대역폭
• 1대의 기기로 LCR 및 SWEEP 측정을 연속적으로 빠르게 측정
• 전지의 무부하 상태의 내부 임피던스 측정가능
• 2ms의 고속 측정에서 SWEEP 측정
• 기본 정확도 ±0.05 %, 부품 검사에서 연구개발까지 사용가능
• 전기화학 요소 및 재료의 등가회로 분석과 콜-콜 플롯을 위한 LCR 임피던스 측정 지원
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IMPEDANCE ANALYZER
• LCR 측정, DCR 측정, 스위프 측정 연속 측정과 고속 검사를 1대로 실현
• LCR 모드에서 빠른 1.5ms (1kHz), 0.5ms (100kHz)의 고속 측정
• 기본 정확도 ± 0.08 %의 고정밀도 측정
• 완벽한 압전 소자(piezoelectric elements)의 공진 특성(resonance characteristics) 검사
• 기능성 고분자 콘덴서의 C-D와 낮은 ESR 측정 인덕터 (코일 트랜스)의 DCR와 LQ 측정에 이상적
• 분석모드에서 주파수 스윕, 레벨 스윕,측정 인터벌 조절 가능
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IMPEDANCE ANALYZER
• 측정주파수 1MHz ~ 300MHz
• 측정시간: 최속 0.5ms (아날로그 계측 시간)
• 기본 확도 ±0.72% rdg.
• Contact 체크 기능(DCR 측정, Hi-Z reject, 파형 판정)
• 아날라이저 모드에서 측정 주파수, 측정 신호 레벨의 sweep 가능
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IMPEDANCE ANALYZER
• 측정주파수 1MHz ~ 600MHz
• 측정시간: 최속 0.5ms (아날로그 계측 시간)
• 기본 확도 ±0.72% rdg.
• Contact 체크 기능(DCR 측정, Hi-Z reject, 파형 판정)
• 아날라이저 모드에서 측정 주파수, 측정 신호 레벨의 sweep 가능
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IMPEDANCE ANALYZER
• 측정주파수 1MHz ~ 600MHz
• 측정시간: 최속 0.5ms (아날로그 계측 시간)
• 기본 확도 ±0.65% rdg.
• Contact 체크 기능(DCR 측정, Hi-Z reject, 파형 판정)
• 아날라이저 모드에서 측정 주파수, 측정 신호 레벨의 sweep 가능